中科院沈陽自動(dòng)化所在科學(xué)智米樂M6 M6米樂能領(lǐng)域研究取得進(jìn)展

　　中國科學(xué)院沈陽自動(dòng)化研究所數(shù)字工廠研究室王卓課題組提出了一種基于深度學(xué)習(xí)的通用框架，用于對(duì)掃描電子顯微鏡（SEM）和透射電子顯微鏡（TEM）所產(chǎn)生圖像中的納米顆粒形貌進(jìn)行快速、準(zhǔn)確地在線統(tǒng)計(jì)分析。

　　獲取納米顆粒定量化形貌信息，是科學(xué)家探討納米顆粒材料性能的重要科研途徑，對(duì)于推動(dòng)納米顆粒材料創(chuàng)新頗為重要。掃描電子顯微鏡（SEM）和透射電子顯微鏡（TEM）是表征納米顆粒材料形貌的重要工具。然而，掃描電子顯微鏡和透射電子顯微鏡產(chǎn)生的圖像會(huì)因較大的背景干擾和龐大的納米顆粒數(shù)量，使獲取納米顆粒材料形貌信息變得困難。如何在海量而復(fù)雜的圖像中實(shí)時(shí)準(zhǔn)確地自動(dòng)獲取納米顆粒定量化形貌信息成為挑戰(zhàn)。

　　該通用框架主要包括納米顆粒分割模塊、納米顆粒形狀提取模塊和納米顆粒形貌統(tǒng)計(jì)分析模塊三部分。其中，在納米顆粒分割模塊的設(shè)計(jì)中，研究人員將輕量化空洞空間池化金字塔模塊、雙注意力機(jī)制和改進(jìn)的多尺度漸進(jìn)融合解碼器相融合，可對(duì)納米顆粒形貌特征進(jìn)行多尺度多維度的快速捕獲和融合，提高該通用米樂M6 M6米樂框架的實(shí)時(shí)性和準(zhǔn)確性。

　　試驗(yàn)結(jié)果表明，科研人員提出的模型在數(shù)據(jù)集上測試達(dá)到86.2%的準(zhǔn)確率，并將模型部署在嵌入式處理器上處理速度可達(dá)11FP米樂M6 M6米樂S，可以滿足電鏡端的實(shí)時(shí)處米樂M6 M6米樂理需求。